【48812】X光机测验箱查验规范计划

  测验卡9和测验卡10为组合测验卡。测验卡9为资料分辩测验卡，用于测验设备的资料分辩才能。测验卡9由具有不一样等效原子序数、不同厚度和相同X射线板、模仿物板和PVC板组成。尼龙6板的厚度为25mm，等效原子序数为6.2;模仿物板的厚度为22mm，等效原子序数为9.8;PVC板的厚度为9.5mm，等效原子序数为14.3。

  6.1光源：在自然光或40-60W的白炽灯光下，物件距光源65～100cm

  本规范规则了微剂量 X 射线安全查看设备（以下简称设备）测验体的技术指标及查验要求.

  依据《同方威视物料分级表》和《同方威视物料AQL抽样规范》正常查验一次抽样计划

  3.1.1丧命缺陷（Cr）：指依据判别或经历以为对运用、保管或依靠产品的人有产生生命危险或人身不安全之成果的缺陷。

  3.1.2严峻（首要）缺陷（Maj）：指除丧命缺陷外产品的运用功能不能达到此希望之意图或显着下降功能的缺陷。

  3.1.3细微（非必须）缺陷（Min）：指不影响产品运用功能，但外观轻度不良。

  测验体A包含4种测验卡：线分辩力测验卡（TEST1）、穿透分辩力测验卡（TEST2）、空间分辩力测验卡（TEST3）和穿透力测验卡（TEST4）。测验体A的结构及尺度见图1~图7，以及图22。

  测验卡4为穿透力测验卡，用于检测设备穿透被检物品的才能，由2个不同厚度的碳钢阶梯组成， 在阶梯面粘有厚5mm、直径为25mm的圆形铅块，圆形铅块应按图示方位与钢板用胶粘牢。钢板的厚度由对应的铅字表明，见图14和图15。

  供方在现有的设备、物料、管理上的水准及人员素质等要素的影响下，以为某一些程度的不良率可为客户承受，且客户也以为能够接纳不良率的质量规范。

  测验体包含测验体A和测验体B。测验体A为图画解析度测验体，用于测验设备的线分辩力、穿透分辩力、空间分辩力和穿透力；测验体B为资料分辩测验体，用于测验设备的资料分辩才能。测验体内包含测验卡。测验卡装置在测验体内的固定板上，并用上、下防护衬板封装成一长方形 的测验体。测验体的防护衬板选用发泡聚乙烯板。

  测验卡8为无机物分辩测验卡，用于测验设备分辩无机物的才能。测验卡8由3部分所组成：薄钢板阶梯（SPCC）、厚钢板阶梯（Q235B）和铅字，测验卡下面的铅字表明阶梯的厚度。测验卡用铝螺钉固定在测验体B的装置板上，测验卡8见图27。

  测验卡5为薄有机物分辩测验卡，用于检测设备对薄有机物分辩才能，由塑料阶梯和铅字组成。 塑料阶梯由ABS塑料板制成，在阶梯面粘有厚1mm、高6mm的铅字，塑料阶梯的厚度别离为1mm、3mm和5mm，测验卡5见图24。

  测验卡6为有机物分辩测验卡，用于测验设备分辩厚有机物质的才能。测验卡由两块不同厚度的 有机玻璃和铅字组成。有机玻璃的厚度别离为80mm和120mm，测验卡下面的铅字表明阶梯的厚度ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ 两块有机玻璃用尼龙螺钉固定在测验体B的装置板上，测验卡6见图25。

  测验卡10为有用资料分辩测验卡，用于检测设备在射线穿过钢阶梯后分辩资料的才能。测验卡由一个碳钢（SPCC）阶梯和测验卡9组成，碳钢阶梯和测验卡9由螺钉固定在测验体B的装置板的两边，见图28~图32。

  测验卡1和测验卡2为组合测验卡。测验卡1为线为穿透分辩力测验卡， 别离用于检测设备的线分辩力和穿透分辩力。

  测验体B包含6个测验卡：薄有机物分辩测验卡（TEST5）、有机物分辩测验卡（TEST6）、灰度分辩测验卡（TEST7）、无机物分辩测验卡（TEST8）、资料分辩测验卡(TEST9)和有用资料分辩测验卡(TEST10)。这些测验卡用于测验能量分辩型设备的资料分辩才能，测验体B结构及尺度见图16~图23。

  测验卡1由一组正弦曲线形锡青铜线）和一组正弦曲线形锡青铜线组成。这些铜线mm的聚脂薄膜上，铜线坐落聚脂薄膜和铝阶梯之间，铝 阶梯在测验卡的最上层，与聚脂薄膜固定在一起，详见图8~图10。锡青铜线的线径和线号（AWG）对应联系见表1。

  测验卡3为空间分辩力测验卡，用于检测设备分辩线由直接固定在装置板上 的，4种不同线 测验卡3装置尺度图

  测验卡7为灰度（混合物）分辩测验卡，用于测验设备灰度分辩以及混合物质分辩才能。测验卡 由3部分所组成：合金铝阶梯（5A02）、厚铝阶梯（2A12）和铅字。合金铝阶梯的级差为1mm，厚铝阶 梯的阶梯厚度为40mm和60mm。测验卡用铝螺钉固定在测验体B的装置板上，测验卡下面的铅字表 示阶梯的厚度，测验卡7见图26。