闪存芯片高低温冲击实验箱

　　闪存芯片高低温冲击实验箱首要查看资料是不是能接受快速的气温改变。有些改变如从高温到低温，然后，从低温到高温。这些忽然的改变会导致应力和损坏，如裂缝或开裂，要方针是看看资料怎么样应对这些大的温度动摇。

　　冷热冲击测验又叫为高低温冲击实验或许温度冲击实验，是将实验样品暴露在高温文低温的接连替换环境中使其在短时刻阅历温度的急剧改变，查核产品对周围的环境温度急剧改变的才能。在判定实验和例行实验中必不可少，也能应用于环境应力挑选实验。

　　二箱设备区分为高温区，低温区两部分，测验产品置于提篮中，冲击时提篮将测验产品移动进高温区或低温区进行冲击，测验产品为动态式。

　　三箱设备区分为高温区，低温区，测验区三部分，测验产品彻底停止。选用共同的蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换办法导入测验区，完结冷热温度冲击测验。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功用，履行冷热冲击条件时，可选择二箱或三箱功用并具有高低温实验箱的功用。

　　1、应用于半导体器材、电子科技类产品和其他军用设备在周围大气温度急剧改变条件下的适应性实验。

　　2、立式结构，高低温箱循环进程自动控制，逗留及转化时刻可调，不锈钢内胆，多方式记载，设有多种安全维护的办法及设备。

　　如有闪存芯片高低温冲击实验箱的选型疑问，能够拜访“环仪仪器”官网，咨询有关技术人员。